SDM1 : Imagerie volumique, cartographie de propriétés et approches corrélatives

Aujourd’hui, de nombreuses techniques permettre d’observer les matériaux depuis l’échelle micrométrique jusqu’à la résolution atomique. On citera par exemple la microscopie électronique (MET, MEB, FIB), la sonde atomique tomographique ou la tomographie RX. Ce symposium couvre tous les aspects de l’imagerie volumique, que ce soit l’utilisation de méthodes émergentes, le développement de méthode pour l’acquisition ou l’analyse de données, ou les applications en science des matériaux. Le symposium couvre également la combinaison de techniques 3D d’imagerie morphologique et chimique, ainsi que la corrélation et/ou fusion de données issues de différentes techniques d’imagerie volumique.

Mots-clés : tomographie, tomographie corrélative, MEB, MET, STEM, APT, tomograhie X.